Measurement of the dielectric constant of amorphous CNx films in the 0-45 eV energy range

Articolo
Data di Pubblicazione:
2000
Tipologia CRIS:
14.a.1 Articolo su rivista
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unime.it/handle/11570/1858490
Pubblicato in:
PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS
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