Caratterizzazione lineare di componenti e circuiti a microonde in fixture e on wafer fino a 50 GHz
Misure di componenti e circuiti con esposizione laser
Misure di cifra di rumore e parametri di rumore di componenti e circuiti a microonde in fixture e on wafer fino a 26.5 GHz
Determinazione di modelli analitici e circuitali di transistori a effetto di campo con proprietà di rumore
Progettazione di componenti, circuiti lineari e sistemi micro-radar a microonde in tecnologia HMIC
Realizzazione di prototipi e test di componenti, circuiti lineari e sistemi radar a microonde in tecnologia HMIC
Sviluppo di metodologie di data processing per misure con radar doppler
Misure di compatibilità elettromagnetica
Sviluppo di circuiti e sistemi elettronici per applicazioni satellitari
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(November 27, 2019 - )